FT-354系列高溫型粉末電阻率測試儀
發(fā)布時間： 2024-04-29 15:25:33 點擊： 2670
FT-354系列高溫型粉末電阻率測試儀
一.應用說明：
1.在高溫環(huán)境下采用壓片法實時測試粉體電性能，分析粉體在高溫環(huán)境下電阻，電阻率（電導率），與壓強和溫度的實時變化關系，模擬材料在使用環(huán)境和自身特性高溫環(huán)境下的電性能狀態(tài).為品質(zhì)管理，新品研發(fā)調(diào)整配比, 生產(chǎn)工藝調(diào)整提供參考數(shù)據(jù).對材料未來使用的不確定性影響因數(shù)進行預測分析，建立產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)的數(shù)據(jù)庫.
二.功能概述:
1.采用集成電路模塊； USB，232通訊接口，直流恒流源 ，四點探針法(方塊電阻)或四端法(體積電阻)測量模式，采用PC軟件操作;
2.粉體受到溫度變化壓縮前及壓縮后壓力增減過程中粉體因自身特性內(nèi)聚力反彈形變或恢復過程變化曲線圖譜；自動測試過程數(shù)據(jù)曲線及圖譜分析，實時分析溫度/壓強/壓力與電阻，電阻率，電導率的變化關系，及報表生成，存儲，打印等；
3.數(shù)據(jù)的對比分析,如常溫與其他溫度條件下曲線圖譜關系分析.
三、適用范圍：
1.四點探針法適用于半導體粉末材料的分析與檢測；如需要在高溫下分析粉末電導率的新材料鋰離子負極材料等新應用材料.
2.四端法適用于導電粉末材料體積電阻的測量分析.如需要在高溫下分析粉末電導率的導點材料；石墨類，碳素等
3.應用于企業(yè)品質(zhì)檢測；研發(fā)部門，大中專院校；科研院所及質(zhì)量檢測機構.
四.參數(shù)資料
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規(guī)格型號 |
FT-354A |
FT-354B |
FT-354C |
FT-354D |
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1.方阻/電阻范圍 |
10-5～2×105Ω/□ |
10-6～2×105Ω/□ |
10-7～2×107Ω |
10-8～2×105Ω |
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2.電阻率范圍 |
10-6～2×106Ω-cm |
10-7～2×107Ω-cm |
10-7～2×107Ω-cm |
10-8～2×105Ω-cm |
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電導率范圍 |
5×10-6～106ms/cm |
5×10-7～107ms/cm |
5×10-7～107s/cm |
5 ×10-5～108s/cm |
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3.測試電流范圍 |
0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA、1000mA |
1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA |
0-10A，100uA |
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4.電流精度 |
±0.1% |
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軟件界面
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電阻、電阻率、方阻、溫度、單位切換、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率、圖譜顯示，壓力設定，壓強，報表導出，波形刷新，時間設定，啟動、停止、運行 |
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6.測試方法 |
四探針法（方塊電阻） |
四端法（體積電阻） |
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7.模具 |
標配：a.壓力200kg和300kg機型模具內(nèi)徑10mm； b. 壓力500kg和1000kg機型模具內(nèi)徑20mm； 模具行程高25mm ； |
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8. 壓力選購 |
a.200kg； b.300kg； c.500kg； d.1000kg |
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9. 模腔行程： |
0-20mm（樣品壓實厚度建議在4mm內(nèi)） |
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10. 樣品高度 |
樣品高度范圍：0.001-10.000mm，測量分辨率0.001mm，可測樣品壓縮厚度0.1mm |
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11. 恒壓時間： time: |
0-99.9s |
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12.溫度范圍 |
常溫-500度； |
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13. 標配標準件 |
a.標準校準電阻1個；b.標準高度校準件1個 |
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14. 測試方式 |
PC軟件操作 |
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15. 加壓方式 |
自動 |
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16. 脫模方式 |
自動 |
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17.電極材質(zhì) |
紫銅 |
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18.吸塵系統(tǒng) |
外置吸塵處理 |
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19.誤差： |
3%； 重復性誤差2%以內(nèi)（平均性誤差，人為因數(shù)外） |
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20.工作電源: |
輸入: AC 220V±10% ,50Hz |
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21. 標配外選購
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a.電腦和打印機依據(jù)客戶要求配置； b.計量證書1份 c.水分儀 d.真密度儀 |
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